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簡(jiǎn)要描述:廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析,擁有經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開(kāi)發(fā)團隊,可提供各類(lèi)芯?的測試方案開(kāi)發(fā),測試硬件開(kāi)發(fā),測試程序開(kāi)發(fā)與調試,小批量測試,應?驗證.從?程化到量產(chǎn)的全流程專(zhuān)業(yè)定制化的?站式服務(wù).
產(chǎn)品分類(lèi)
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品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區域 | 全國 |
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服務(wù)周期 | 常規5-7個(gè)工作日 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)范圍
廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)范圍:集成電路(微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線(xiàn)接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA,驅動(dòng)芯片、監控芯片、電源類(lèi)芯片等)
檢測標準
● GJB 597B-2012半導體集成電路通用規范
●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規范
● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造廠(chǎng)認證用半導體集成電路通用規范
● 行業(yè)規范:MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制標準:產(chǎn)品?冊、詳細規范、測試方案
檢測項目
FT工程化 | 測試方案開(kāi)發(fā)與測試平臺選型; 測試程序開(kāi)發(fā):V93000、Ultraflex、J750HD、STS系列、magnum等 測試硬件設計:loadboard、changkit、socket、PCB ?程化驗證與特性參數分析 |
FT量產(chǎn) | ?次篩選 小批量量產(chǎn) 量產(chǎn)維護與良率提升 |
應用驗證 | 項目驗收測試 板級應用測試 |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節點(diǎn),貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過(guò)程。測試在保證芯片質(zhì)量,產(chǎn)品交付、項目驗收及推向應?具有重要作?。而芯片設計多樣化和定制化,對測試人才和技術(shù)經(jīng)驗要求明顯提升,如何實(shí)現快速?程化和量產(chǎn)將?臨極?挑戰。
我們的優(yōu)勢
廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)擁有一支經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開(kāi)發(fā)團隊,可提供各類(lèi)芯片的測試方案開(kāi)發(fā)、測試硬件開(kāi)發(fā)、測試程序開(kāi)發(fā)與調試,小批量測試、應?驗證。從?程化到量產(chǎn)的全流程專(zhuān)業(yè)定制化的?站式服務(wù)。
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