服務(wù)內容

廣電計量功率循環(huán)測試,汽車(chē)功率器件封裝可靠性測試通過(guò)負載電流加熱和開(kāi)關(guān)斷動(dòng)作，來(lái)模擬器件工作中的結溫波動(dòng)，通過(guò)一定程度的加速老化，以提前暴露器件封裝的薄弱點(diǎn)，評估封裝材料的熱膨脹系數差異對器件壽命的影響，是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。

服務(wù)范圍

功率循環(huán)測試,汽車(chē)功率器件封裝可靠性測試，車(chē)規級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設計產(chǎn)品。

檢測標準

● DINENISO/IEC17025：General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列：Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列：Semiconductor Devices ? Mechanical and Climatic  Test Methods

● DIN EN 60664系列：Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列：Environmental testing

● JESD22-A119:2009：Low Temperature Storage Life

檢測項目

根據負載電流加熱的時(shí)長(cháng)不同，功率循環(huán)測試分為秒級功率循環(huán)（PCsec）， 分鐘級功率循環(huán)（PCmin），如電力電子模塊AQG324測試標準規定，不同的負載電流加熱時(shí)長(cháng)，考察的封裝體對象也不同。如下表：

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

測試周期

常規5-7個(gè)工作日

服務(wù)背景

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功率循環(huán)測試被稱(chēng)為考核功率器件封裝可靠性最重要的實(shí)驗，尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發(fā)展，是近幾年的研究熱點(diǎn)。與其他可靠性測試不同的是，功率循環(huán)測試原理雖然簡(jiǎn)單，但測試技術(shù)、測試方法和數據處理卻涉及到半導體物理、電磁學(xué)、傳熱學(xué)、結構力學(xué)和信號分析等多學(xué)科交叉，處理不當將得到錯誤的結論。

我們的優(yōu)勢

廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關(guān)測試有著(zhù)豐富的實(shí)戰經(jīng)驗，是SiC領(lǐng)域是國內技術(shù)能力全面的第三方檢測機構之一，為眾多半導體廠(chǎng)家提供模塊的規格書(shū)參數測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務(wù)。

在功率循環(huán)測試方向，廣電計量引進(jìn)多臺西門(mén)子功率循環(huán)測試機臺Power Tester1800A/1500A，同時(shí)還有部分國產(chǎn)高可靠性功率循環(huán)測試機臺，能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式，并且滿(mǎn)足20℃~125℃的底溫要求，產(chǎn)能充足。

手法，可以協(xié)助廠(chǎng)家進(jìn)行AQG324的認證檢測；擁有經(jīng)驗豐富的材料及電性能可靠性專(zhuān)家，可以針對功率半導體進(jìn)行多方位的失效分析及可靠性驗證方案的設計與執行。