服務(wù)內容

粒子碰撞噪聲試驗的原理是對有內腔的密封件（如微電路）施加適當的機械沖擊應力，使黏附于微電路腔體等密封件內的多余物成為可動(dòng)多余物。同時(shí)施加振動(dòng)應力，使可動(dòng)多余物產(chǎn)生振動(dòng)，振動(dòng)的多余物與腔體壁撞擊產(chǎn)生噪聲。通過(guò)換能器檢測噪聲，判斷腔內有無(wú)多余物。廣電計量粒子碰撞噪聲檢測(PIND)試驗主要是對相關(guān)器件進(jìn)行振動(dòng)和沖擊循環(huán)試驗。

粒子碰撞噪聲檢測（PIND）試驗需要的設備（或等效的）組成如下：

        ● A、閾值檢測器，檢測超過(guò)預置閾值的粒子噪聲電壓。設定的檢測器閾值峰值為 20±1mV （相對系統地的絕對值）。

        ● B、振動(dòng)機及驅動(dòng)器，能對受試器件提供大體是正弦的振動(dòng)：

            條件 A一在 4～～250Hi下，峰值加速度為 196m/s2（20g）。

            條件 B一在至少 60HZ下，峰值加速度為 98m/s2（10g）。

       ● C、PIND傳感器，使在150～160kHz頻率內某一點(diǎn)峰值靈敏度校準到每10V/Pa對應一775±30dB·V/Pa（-77.5±3dB·V/μbar）。

服務(wù)范圍

集成電路、晶體管、電容器、航空/航天/軍事領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內的多余物松散顆粒。

檢測標準

GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2020.1

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檢測項目

試驗項目可分為條件A和條件B，其中條件A振動(dòng)頻率由器件的內腔高度而定，條件B則為固定振動(dòng)頻率。

條件A（振動(dòng)頻率根據內腔高度而定）

條件B（固定頻率）

相關(guān)資質(zhì)

CMA，CNAS

測試周期

常規檢測周期：5-7個(gè)工作日

服務(wù)背景

密封元器件在生產(chǎn)過(guò)程中有一個(gè)容易被生產(chǎn)方忽略并導致后續使用過(guò)程中引發(fā)元器件失效的風(fēng)險，就是密封元器件內部出現的多余微小松散顆粒。

在生產(chǎn)帶空腔的密封元器件過(guò)程中，有概率會(huì )把一些多余的微小顆粒，如焊錫渣、松香、金屬屑、密封劑、灰塵等封裝在密封空腔內。在外界強振動(dòng)或沖擊環(huán)境下，這些空腔中的多余微小顆粒受到外力激勵會(huì )被激活，與腔壁及腔內其他結構進(jìn)行隨機碰撞，可能會(huì )導致元器件短路、不動(dòng)作、誤動(dòng)作等失效情況發(fā)生，從而造成質(zhì)量事故。

這種多余微小松散顆粒在密封后的元器件因無(wú)法直接觀(guān)察獲知，被成為密封元器件的隱藏殺手。對有內腔的密封元器件進(jìn)行粒子碰撞噪聲檢測（PIND，Particle Impact Noise Detection）試驗可有效發(fā)現密封元器件內多余微小松散顆粒，避免質(zhì)量事故發(fā)生。

我們的優(yōu)勢

廣電計量具備粒子碰撞噪聲檢測儀，可進(jìn)行繼電器、電源模塊、晶振、半導體分立器件、集成電路等諸多類(lèi)型空腔元器件的粒子碰撞噪聲檢測（PIND）試驗，可有效地提高電子元器件的使用可靠性。

廣電計量元器件篩選及失效分析實(shí)驗室在廣州、成都、無(wú)錫、上海等城市都擁有經(jīng)驗豐富的檢測團隊，具備集成電路、分立器件、晶振等元器件的粒子碰撞噪聲檢測能力，為密封元器件的質(zhì)量使用可靠性保駕護航。